Новый оборонный заказ. Стратегии
Новый оборонный заказ. Стратегии
РУС |  ENG
Новый оборонный заказ. Стратегии

В сентябре 2022 года состоятся две предконференции Российского форума «Микроэлектроника 2022»

В текущем году в рамках Научной конференции «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули» Российского форума «Микроэлектроника 2022» состоятся две предконференции: «Доверенные и экстремальные электронные системы» (с 12 по 14 сентября в Москве на базе Консорциума НИЯУ МИФИ и АО «ЭНПО СПЭЛС») и «Электронная компонентная база и радиоэлектронные системы» (с 15 по 16 сентября в Зеленограде на базе НИУ МИЭТ).

 

О других конгрессно-выставочных мероприятиях читайте в рубрике «Выставки и конференции»

 

Регистрация на участие в предконференциях продолжается на сайте форума Микроэлектроника 

 

Одной из важнейших составляющих Российского форума «Микроэлектроника» является Научная конференция «Электронная компонентная база и микроэлектронные модули». Значимость этого события для научного мира в сфере микроэлектроники с очевидностью подтверждается постоянно растущим количеством желающих представить на конференции результаты своих исследований и практические достижения. Помимо увеличения количества докладчиков, все больше становится и секций мероприятия: в этом году их будет уже тринадцать.

Однако не у всех специалистов имеется возможность лично принять участие в основных мероприятиях форума. Кроме того, секции конференции на форуме работают параллельно, участникам приходится выбирать, какую из них посетить, и они могут пропустить интересную информацию по другим направлениям.

Да и доклады различны: одни носят узкоспециализированный характер и представляют интерес лишь для небольшого круга специалистов, другие – напротив, касаются широкого спектра проблем и могут быть полезны широкой аудитории из смежных областей.

Поэтому для оптимизации информационных потоков и предоставления возможности эффективного участия максимальному числу специалистов принято решение представить значительную часть индивидуальных докладов в рамках предконференций, заседания которых проходят последовательно как в очном, так и в онлайн-форматах. Это решение организаторов форума основано на успешном опыте прошлого года, когда в порядке эксперимента была организована предсессия на базе секции № 5.

 

Модераторами Предконференции «Доверенные и экстремальные электронные системы» выступят д. т. н., проф. Александр Юрьевич Никифоров (ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ) и д. т. н., проф. Сергей Геннадьевич Бобков (ИППМ РАН).

 

Узнать о предконференции «Доверенные и экстремальные электронные системы» 

 

Тематика предконференции охватывает широкий круг вопросов создания, применения и контроля работоспособности ЭКБ и РЭА общего и специального назначения, в частности:

  • микропроцессоров и микроконтроллеров, других программно-управляемых систем, СФ-блоков, систем на кристалле (СнК) и систем в корпусе (СвК) на их основе, в том числе реализованных в условиях контрактных производств;
  • ПЛИС, БМК, АЦБК, микросхем памяти, интерфейсных схем;
  • аналого-цифровых и цифро-аналоговых преобразователей, систем сбора и обработки данных;
  • аналоговых микросхем, стабилизаторов и преобразователей напряжения, источников питания;
  • радиоэлектронных систем, приемо-передатчиков, СВЧ- и РЧ-ЭКБ для систем связи, навигации, радиолокации, электронной маркировки, беспилотного транспорта, Интернета вещей, др.;
  • полупроводниковых приборов и систем на их основе, в том числе мощных, высоковольтных, СВЧ, прецизионных;
  • всех видов пассивных электронных и электротехнических изделий;
  • индикаторов, дисплеев, изделий и систем оптоэлектроники, радиофотоники и лазерной техники.

 

В отношении перечисленных классов объектов к тематике предконференции непосредственно относятся все вопросы:

  • исследования, моделирования, проектирования, контроля, верификации и испытаний ЭКБ, комплексов и систем для применения на объектах критической информационной инфраструктуры;
  • обеспечения, испытаний и оценки доверенности, информационной безопасности, идентификации и выявления признаков контрафактного происхождения изделий;
  • обеспечения, испытаний и контроля качества, надежности и радиационной стойкости изделий на всех этапах жизненного цикла с учетом влияния режимов, сроков и условий эксплуатации;
  • создания и применения методик и аппаратно-программных комплексов для тестирования и контроля работоспособности изделий ЭКБ и радиоэлектронных систем.

 

Модераторами Предконференции «Электронная компонентная база и радиоэлектронные системы» являются академик РАН, д. т. н., проф. Юрий Александрович Чаплыгин, д. т. н., доц. Алексей Леонидович Переверзев и д. т. н., проф. Сергей Петрович Тимошенков (НИУ МИЭТ).

 

Узнать о предконференции «Электронная компонентная база и радиоэлектронные системы» 

 

В рамках предконференции буду рассмотрены вопросы проектирования, технологии изготовления ЭКБ, анализа и экспериментальных исследований информационно-управляющих и радиотехнических систем, включая исследование и разработку СФ-блоков, структурных и архитектурных решений, алгоритмов цифровой обработки сигналов и способов их технической реализации, вопросы создания микросистемной техники, сенсорики,  инерциальных измерительных систем,  МЭМС, интегральной оптики и радиофотоники, анализа квантовых эффектов, исследования материалов, технологических процессов, технологического оборудования.

 

По результатам работы предконференций докладчики получат возможность опубликовать представленные материалы в изданиях, входящих в перечень ВАК, даже если они не планируют очное посещение основных заседаний форума в октябре этого года. Важно, что все докладчики предконференций – участники основного мероприятия форума приглашаются представить свои доклады на форуме в Сочи («Роза Хутор») в формате стендовых докладов (постеров) с их очной презентацией на специальном мероприятии 3 октября в 18:30.

 

Возможные форматы выступлений (включая время для ответа на вопросы и дискуссии): обзорный доклад – 30 мин, доклад – 20 мин, сообщение – 15 мин, краткое сообщение – 10 мин.

 

Для участия в форуме и его предконференциях регистрируйтесь на сайте Микроэлектроники